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產(chǎn)品名稱：X熒光膜厚測量儀韓國XRF-2000L
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品報價：
產(chǎn)品特點：MicroP XRF-2020韓國測厚儀檢測電子電鍍,化學(xué)電鍍層厚度,測量鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...可測單層,雙層,多層,合金鍍層X熒光膜厚測量儀韓國XRF-2000L
X熒光膜厚測量儀韓國XRF-2000L的詳細(xì)資料：
X熒光膜厚測量儀韓國XRF-2000L
XRF-2000L系列型號均已更改為XRF-2020
韓國微先鋒系列
功能及應(yīng)用:快速無損測量電鍍層厚度
可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層
儀器規(guī)格
XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg
XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg
儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量
多個準(zhǔn)直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm
可配多個或單個準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動切換
Microp XRF-2020測厚儀(韓國微先鋒）
快速無損測量鍍金，鍍銀，鍍錫，鍍銀，鍍鎳，鍍銅，鍍鋅鎳合金等！
測量原理：
物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進(jìn)行定性和定量分析。
功能及應(yīng)用:快速無損測量電鍍層厚度
可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層
MicroP XRF-2020韓國測厚儀
鍍銀測量范圍0.1-50um
鍍鎳測量范圍0.5-30um
鍍銅測量范圍0.5-30um
鍍錫測量范圍0.5-50um
鍍金測量范圍0.02-6um
鍍鋅測量范圍1-30um
鋅鎳合金測量范圍1-25um
鍍鉻測量范圍0.5-25um
X熒光膜厚測量儀韓國XRF-2000L
XRF-2000L系列型號均已更改為XRF-2020
| 如果你對X熒光膜厚測量儀韓國XRF-2000L感興趣，想了解更詳細(xì)的產(chǎn)品信息，填寫下表直接與廠家聯(lián)系： |
