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產(chǎn)品名稱：韓國XRF-2000無損X射線測厚儀
產(chǎn)品型號(hào)：
產(chǎn)品報(bào)價(jià)：
產(chǎn)品特點(diǎn)：鍍金鍍鎳鍍銀鍍鋅鍍錫鍍鉻測厚儀檢測電子電鍍,化學(xué)電鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...可測單層,雙層,多層,合金鍍層韓國XRF-2000無損X射線測厚儀
韓國XRF-2000無損X射線測厚儀的詳細(xì)資料：
韓國XRF-2000無損X射線測厚儀
電鍍是利用化學(xué)和電化學(xué)方法，在金屬或在其它材料表面鍍上各種金屬。
電鍍技術(shù)廣泛應(yīng)用于機(jī)器制造、輕工、電子，五金，電氣等行業(yè)。
韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀
檢測電子電鍍,化學(xué)鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
測量的厚度范圍為0.03微米～35微米。
可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料。
XRF-2000鍍層測厚儀三款型號(hào)
不同型號(hào)各種功能相同
機(jī)箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2000H型:測量樣品高度不超過10cm (長寬55cm)
XRF-2000L型:測量樣品高度不超過3cm （長寬55cm）
XRF-2000PCB型:測量樣品高度不超3cm,PCB板
XRF-2000可測六層.誤差大約如下:*層(5%).第二層(8%).第三層(12%).第四層(20%).第五層(25%).第六層為底材.誤差視乎不同原素不同厚度有所不同。
韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀測量范圍.
Au 0.03-4um
Pd 0.03-4um
Ni 0.05-20um
Ni-P 0.05-20um
Sn 0.05-80um
Ag 0.03-20um
Cr 0.05-20um
Zn 0.05-20um
ZnNi 0.05-20um
SnCu 0.05-20um
設(shè)備功能描述
兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)
使用X熒光射線非接觸非破壞快速測量膜厚層
各種樣品單層至多層（5層），合金膜層均可測量
定點(diǎn)自動(dòng)定位分析
光徑對(duì)準(zhǔn)全自動(dòng)
影像重疊功能
自動(dòng)顯示測量參數(shù)
彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)
多重統(tǒng)計(jì)顯示視窗與報(bào)告編輯應(yīng)用2D/3D，任意位置測量控制Y軸全自動(dòng)控制鐳射對(duì)焦與自動(dòng)定位系統(tǒng)
多種機(jī)型選擇X-ray運(yùn)行待命（睡眠）控制溫控穩(wěn)定延長校準(zhǔn)時(shí)效全進(jìn)口美日系零件價(jià)格優(yōu)勢及快速的服務(wù)時(shí)效
韓國XRF2000X光鍍層測厚儀精度控制：
*層：±5%
第二層：±8%
第三層：±15%
銅上鍍銀測厚儀，銅上鍍鎳測厚儀,鐵上鍍鋅測厚儀，鐵上鍍鋅鎳測厚儀，金鎳鍍層測厚儀
鍍金鍍鎳鍍銀鍍鋅鍍錫鍍鉻測厚儀
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