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產品名稱:韓國XRF-2000測厚儀標準片校正片

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產品報價:

產品特點:韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀標準片
用于儀程序標準程序設定及校準儀器
檢測電子電鍍,化學電鍍層厚度,
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
韓國XRF-2000測厚儀標準片校正片

韓國XRF-2000測厚儀標準片校正片的詳細資料:

韓國XRF-2000測厚儀標準片校正片

X-RAY膜厚儀校正片

適合各種X光鍍層測厚儀

 

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。

也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系

來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品

以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。 

韓國MicroPXRF-2020鍍層測厚儀

檢測電子電鍍,五金電鍍,PCB板,LED支架等電鍍層厚度。

測量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳,鍍鋅鎳合金等

可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量,不限底料

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